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基于焦点质量度量估计微波乳房成像平均介电特性的方法, 中国发明专利,ZL2019109251898,申请日: 2019-09-27, 授权日:2021-11-03.

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Pre One:一种估计微波乳房成像的平均介电特性的方法, 中国发明专利,ZL2019113697416, 申请日: 2019-12-26, 授权日:2021-11-03.

Next One:一种应用超声表面波无损检测薄膜厚度的方法, 中国发明专利, ZL2018102398685, 申请日: 2018-03-22, 授权日:2020-07-21.