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适用于纳米尺寸下工艺不敏感的高增益两级运算放大器, 中国发明专利, ZL2015107367251,申请日:2015-11-03, 授权日:2018-10-16.

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Pre One:一种基于内聚力模型的无损检测薄膜粘附性的方法, 中国发明专利, ZL201511017110X,申请日:2015-12-28,授权日:2018-10-16.

Next One:适用于图像传感器的驱动大负载低噪声的多级运算放大器, 中国发明专利, ZL2015108547919, 申请日:2015-11-27, 授权日:2018-10-16.