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上一条:一种测量镶嵌薄膜杨氏模量的方法, 中国发明专利, ZL 2011103782670, 申请日:2011-11-24, 授权日:2013-07-24.
下一条:结构改进型压电信号探测器, 中国发明专利, ZL2009103075102, 申请日:2009-09-28, 授权日:2011-05-04.