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上一条:一种基于天线阵列的未知目标探测信号基准波形提取方法, 中国发明专利, ZL2010105183104, 申请日：2010-10-25, 授权日：2012-08-22.
下一条:表面波評価装置，日本发明专利，日本国特许厅，公开号：JP2004-286594, 公开时间：2004-10-14，授权号：3876316，授权时间：2006-11-10.
