English 官网

聂凯明

  • 教师名称:聂凯明
  • 教师拼音名称:Nie Kaiming
  • 出生日期:1986-12-25
  • 性别:
  • 职务:
  • 学科:电子科学与技术
  • 职称:副教授

其他联系方式

  • 邮编:
  • 通讯/办公地址:
  • 邮箱:

A Transient Noise Simulation Model for the Analysis of the Optimal Number of Stages of the Analog Accumulator in TDI CMOS Image Sensors

点击次数:

发表刊物:Microelectronics Reliability

第一作者:Kaiming Nie

论文类型:Applied Research

卷号:60

页面范围:70-77

是否译文:

上一条:A 128-Stage CMOS TDI Image Sensor With On-Chip Digital Accumulator 下一条:A fast correlated multiple sampling technique based on 12-bit SAR ADC with digital calibration for low-noise CMOS image sensor

地址:天津市南开区卫津路92号 邮编:300072
津ICP备05004358号-1 津教备0316号 津公网安备 12010402000425号